涡流涂镀层测厚仪SLD-JX840

适用范围：适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶探头完全兼容。包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，对涂有漆膜的工件进行真实的厚度精确检测。

规格参数：

增益范围：0～52dB（1.0步进）；

P-E模式探测范围 ： 0.75～1000.0MM；

频带宽度： 0.5～15.0MHz；

可穿透涂层厚度： 1MM；

E-E模式穿透涂层后可测范围： 2～200MM；

声速范围： 500～9999m/s；

位移范围： 0.00～1000.0mm；

探头方式： 双晶；

测量精度： 0.01mm；

显示模式： 全屏数显、AScan、BScan；

测量单位：公制（mm）/英制（in）；

闸   门 ： 门高连续可调；

输出端口： Mini USB；

打印输出： 存储波形和数据；显 示 器： 2.4"真彩显示320×240；

电池工作时间： >3小时；

工作温度： -20℃～50℃；

电      源 ：三节AA型碱性干电池；

外形尺寸： 150（长）×75（宽）×32（厚）（mm）；

整机重量： 0.275Kg（含电池）。